DT306-IIA光強分布測定儀

功能：

單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定；

小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗；

偏振光實驗光強變化的測定；

驗證馬呂斯定律.

技術指標：

1. 導軌長度:1000mm .

2. 半導體激光器:配置精密二維調整架，波長635nm，功率3mv.

3. 分劃板:小孔狹縫板和光柵.

4、可調狹縫寬度:0—1 mm（連續可調）.

5、擴束鏡倍率:13X  .

6、一維光強分布測量距離 :＞80 mm.*小讀數：0.01 mm.

7、偏振光實驗測量范圍 :360°,刻線*小讀數：2°.

8、數字式檢流計:光電流測量范圍：0~2×10-4A,*小讀數：1×10-10A.

9、供電電源:交流220V±11V，頻率50HZ（交流穩壓）